




温度变化试验分为三类: 1、规定转换时间的快速温度变化试验,转换时间分为:2~3min,集成电路三温测试设备方法,20~30s,集成电路三温测试设备原理,<10s 。 2、规定温度变化速率的温度变化试验,试验箱的温度升降变化速率(不超过5min内的平均值)应为1± 0.2℃ /min, 3± 0.6℃ /min, 5± 1℃ /min 。 3、两液槽温度快速变化试验,集成电路三温测试设备,产生一种急剧的热冲击,适用于玻璃-金属密封及类似的试验样品.低温槽装有标准规定的低温液体,若没有规定则液体温度应为0℃,高温槽装有标准规定的高温液体,集成电路三温测试设备公司,若没有规定,则液体温度应为100℃。
规范要求:冷热冲击试验箱平衡式调温pid+pwm+ssr系统,温度控制稳定,精
产品说明:冷热冲击试验机区分为高温区、低温区、测试区三部分, 各区之箱体釆之断热结构。冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区,做冷热冲击测试。高温冲击或低温冲击时,很大时间可达9999分钟,较大循环周期可达9999次。系统可作自动循环冲击或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。冷却采二元冷冻系统,降温效果快速,冷却方式为风冷式或水冷式两种。可连接电脑,记录仪仅为选购件。采用彩色中英文lcd触控式图控操作介面,操作简易。
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