集成电路三温测试设备生产厂家-天一瑞合-集成电路三温测试设备

冷热冲击试验箱工作原理

两箱式试验箱通过机组的加热系统和制冷系统，分别产生一个高温环境（60℃~200℃）和一个低温环境（-10℃~-80℃），根据温度冲击试验的相关要求，将被试验品放入指l定温室的载物篮内，待两温室达到预设温度且稳定时，通过传动机构牵动载物篮，实现篮内被测元件在高低温室间的移动。移动过程中高低温室相通，集成电路三温测试设备，被测元件也由高温或低温状态进入另一温室，所以会有大量冷热负荷带入，机组要通过制冷系统或加热系统迅速恢复到各温室预定温度。当被测元件所在温室温度长时间保持稳定后，再经过传动机构将载物篮反向牵动，把被测元件带回原温室，同样须迅速恢复到预定温度，当温度再次长时间稳定后，再重复上述操作，完成多次温度循环冲击试验。

产品说明:冷热冲击试验机区分为高温区、低温区、测试区三部分， 各区之箱体釆之断热结构。冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区，做冷热冲击测试。高温冲击或低温冲击时，很大时间可达9999分钟，较大循环周期可达9999次。系统可作自动循环冲击或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。冷却采二元冷冻系统，降温效果快速，冷却方式为风冷式或水冷式两种。可连接电脑，记录仪仅为选购件。采用彩色中英文lcd触控式图控操作介面，操作简易。