集成电路三温测试设备公司-天一瑞合-集成电路三温测试设备

 设备名称

 立式热流仪 (---温超快速冷热冲击机)

 设备型号

 tyst-400-10s

 性能指标

 温度范围

 -80℃~200℃

 温度控制精度

 ±1.0℃(经校正之后的设备)

 温度解析精度

 0.1℃

 温度波动度

 ≤±0.5℃

 出气流量

 5~18 (2.35l/s~8.49l/s)

 特征温度变化速度

 -55℃~+125℃，约10s

 (出气口空载 )

 +125℃~-55℃，约15s

 温度控制方式

 t型、k型温度传感器，定值监控、程式监控

 功能指标

 操作界面

 10寸触摸屏， ---的人机交互界面

 通讯方式

 网口、rs485，可远程控制(提供协议和程序)

 数据存储

 u盘存储

 安装指标

 尺寸

 590mm*1045mm*872mm(w*h*d)

 测试罩移动性

 自研支架固定，可升降，可左右移动

 电源

 ac220v 50hz 单相

产品说明:冷热冲击试验机区分为高温区、低温区、测试区三部分， 各区之箱体釆之断热结构。冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区，做冷热冲击测试。高温冲击或低温冲击时，很大时间可达9999分钟，较大循环周期可达9999次。系统可作自动循环冲击或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。冷却采二元冷冻系统，集成电路三温测试设备，降温效果快速，集成电路三温测试设备厂家，冷却方式为风冷式或水冷式两种。可连接电脑，记录仪仅为选购件。采用彩色中英文lcd触控式图控操作介面，操作简易。