集成电路三温测试设备-天一瑞合-集成电路三温测试设备原理

冷热冲击试验机高低温区温度范围：高温区部分：+80℃至+200℃； 低温区部分：-10℃至-55℃ 温度测试范围：高 温：+60℃至+150℃；低 温：0℃至-40℃ 控制精度：+（-）2℃解析精度：0.01℃ 高温区升温时间：自常温至150℃，约60分钟 低温区降温时间：自常温至 -40℃，集成电路三温测试设备原理，约80分钟 测试区温度恢复时间：3-5分钟

产品用途：冷热冲击试验机该产品适用于电子元气件的安全性能测试提供---性试验、产品筛选试验等，定制集成电路三温测试设备，同时通过此装备试验，可提高产品的---性和进行产品的控制。高低温冲击试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域---的测试设备，考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品，在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能，使用的适应性，适用于学校，工厂，军l工，研位，等单位。