集成电路测试设备-天一瑞合仪器设备-集成电路三温测试设备

确定冷热冲击试验箱温度恢复时间的方法；

1、按规定方位装置温度丈量传感器，集成电路三温测试设备，将高温箱和低温箱的温度控制器别离调理到所要求的标称温度上。 　　2、别离使箱体升温文降温，自冷热冲击试验箱进入控温状况后安稳30 min或按产品技能条件要求安稳相应的时刻，记载丈量点的温度值。 　　3、将查验负载置入高温设备中，按产品技能条件要求或有关规范的规则挑选相应的坚持时刻。 　　4、挑选冷热冲击试验箱变换时刻，集成电路三温测试设备报价，然后将查验负载由高温设备转入低温设备，留意调查和记载丈量点的温度；再按相同的办法进行查验负载由低温设备向高温设备的相反变换，留意调查和记载丈量点的温度。 　　5、别离记载查验负载从高温（或低温）设备变换到低温（或高温）设备后至设备丈量点温度康复到查验负载放人之前的温度状况所需要的短时刻。

控制系统:冷热冲击试验机采用7寸真彩触摸屏，画面显示直观易操作，可做定值和程式控制。250组程序，12500段，每组程序32000次循环，250天历史数据保存功能.预约开关机功能，结束规划设定，停电自动保存数据曲线等.标配usb/rs-232接口，试验数据曲线下l载，数据拷贝电脑自动生成excel表格形式，方便分析.可附加选购局域网远程操控功能.根据待测产品需要设定任意冲击温变率5℃～30℃/min（快速温变型）