集成电路测试设备-天一瑞合仪器设备公司-集成电路三温测试设备

 设备名称

 立式热流仪 (---温超快速冷热冲击机)

 设备型号

 tyst-400-10s

 性能指标

 温度范围

 -80℃~200℃

 温度控制精度

 ±1.0℃(经校正之后的设备)

 温度解析精度

 0.1℃

 温度波动度

 ≤±0.5℃

 出气流量

 5~18 (2.35l/s~8.49l/s)

 特征温度变化速度

 -55℃~+125℃，约10s

 (出气口空载 )

 +125℃~-55℃，约15s

 温度控制方式

 t型、k型温度传感器，定值监控、程式监控

 功能指标

 操作界面

 10寸触摸屏， ---的人机交互界面

 通讯方式

 网口、rs485，可远程控制(提供协议和程序)

 数据存储

 u盘存储

 安装指标

 尺寸

 590mm*1045mm*872mm(w*h*d)

 测试罩移动性

 自研支架固定，可升降，集成电路三温测试设备生产厂家，可左右移动

 电源

 ac220v 50hz 单相

产品用途：冷热冲击试验机该产品适用于电子元气件的安全性能测试提供---性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，集成电路测试设备，可提高产品的---性和进行产品的控制。高低温冲击试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域---的测试设备，考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品，在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能，使用的适应性，适用于学校，工厂，军l工，研位，等单位。