集成电路三温测试设备公司-天一瑞合-集成电路三温测试设备

规范要求:冷热冲击试验箱平衡式调温pid+pwm+ssr系统，温度控制稳定，精l确。.正压式出风口设计，---每个角落均有风循环到，温度达到高均匀度要求.高/低温风道系统3s切换完成，高/低温冲击5min内回复.冷冻系统:冷热冲击试验箱模块化制冷系统，效率l高，安装维护方便.冲击温度为-40～-60℃时采用二元式制冷系统.水浸查漏，查漏，潜在泄露问题.制冷系统，集成电路三温测试设备，电控系统多项安全保护机制.

产品说明:冷热冲击试验机区分为高温区、低温区、测试区三部分，集成电路三温测试设备原理， 各区之箱体釆之断热结构。冲击方式应用风路切换方式将温度导入测试区，做冷热冲击测试。高温冲击或低温冲击时，很大时间可达9999分钟，较大循环周期可达9999次。系统可作自动循环冲击或手动选择性冲击并可设定二区或三区冲击及冷冲热冲启始。冷却采二元冷冻系统，降温效果快速，冷却方式为风冷式或水冷式两种。可连接电脑，记录仪仅为选购件。采用彩色中英文lcd触控式图控操作介面，操作简易。